1. Materials și metode

Versiunea compozitii exacte chimice (în% de masă) din aliaje Hastelloy-x cu 0 și 0,12 ytriu suntnumite HX și HX-a, respectiv, și sunt prezentate în tabelul 1. Aceste două exemplare au fost construite sub formă de cub de 45 × 45 × 45 mm utilizând mașina EOS M290 SLM (EOS, Robert-stirling-ring 1, 82152, krailling, bavaria, Germania) într-o ATOPSHE DE PROTECȚIE ARĂ Utilizarea pulberilor pre-nallificați și aceiași parametri de procesare. Am efectuat tratament standard pentru căldură atât pentru specimenele HX, cât și pentru HX-A. Tratamentul termic Solution (ST) a fost efectuat la 1177 ◦C timp de 2 ore, urmată de răcire cu aer la temperatura camerei-

Pentru testul fluaj, am feliat cubul într-unnumăr de plăci cu o grosime de 3,1 mm; Din aceste plăci, eșantioanele de testare a fluajului au fost tăiate folosind o mașină de tăiere a firului electrodis. Dimensiunile gabaritului fiecărui specimen au fost de 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Am efectuat testul de creep sub 900 ◦c \\ C-80 MPA. Specimenele au fost lustruite cu ajutorul hârtiei SIC Emery până la gradul 1200/urmat de pastă de diamant până la silice coloidală (0,5 μm) folosind o mașină automată de lustruire automată (Ballerup, Danemarca). Toate specimenele au fost apoi spălate cu etanol într-o baie cu ultrasunete timp de 10 minute. Am gravat specimenele cu soluție de apă fosforică de 20%#80% pentru a observa limitele bazinului topit. Observarea microstructurală a fost efectuată utilizând un microscop optic (Olympus Corp. Tokyo, Japonia), un microscop de scanare electronică (SEM; Hitachi, Ltd., Tokyo, Japonia), Energie+dispersive Spectroscopie (EDS) (EDS tip S-3700N Echipamente fabricate de Horiba Seisakusho Co, Ltd., Kyoto, Japonia) și microscopia electronică a emisiilor de câmp (Fe-SEM) (JSM-7100, JEOL, Tokyo, Japonia) atașată la un EDS (Edaxametex 9424). Image J Software (64-BIT Java 1.8.0_172) a fost utilizat pentru a analiza fracțiunea de fisuri și măsurătorile de porozitate.-

 -results

-3.1.---Microstructure Observation-

3.1.1. ašBuilt Specimene

Figure 1 prezintă HX și HXA specimene optice microstructuri în condiția de--rezervă. Toate au fost fabricate folosind aceiași parametri de procesare. Specimenul HX-a a prezentat mai multe crăpături decât HX (Figura 1A) deoarece specimenul HXA conține elemente de aliere de ytriu suplimentare (Y) pe care specimenul HX le lipsea. Punctulnotabil este că toate fisurile au fost paralele cu direcția clădirii (BD) (figura 1b). Fracțiunile fisuri pentru HX și HX

--Figure 2 prezintă SEM micrographs din cele ca specimen. La o mărire mai mică, toate specimenele au arătat limite de piscină topită și structuri de solidificare, cum ar fi limitele și dendritele de cereale (Figura 2A, B pentru HX și Figura 2C, D pentru HXA). Figura 2b prezintă fisuri la o mărire mai mare în specimenul HX. În ambele specimene, fisurile au fost formate de-a lungul graniței de cereale și au apărut în regiunile interdendritice.

-Ne efectuat EDS scanează mapare la fisurile HX și HX-a exemplare. Analiza EDS a arătat carburi SIC și formarea W6C în specimenul HX (Figura 3A). În HX-a specimen, EDS de cartografiere la crăpătura a arătat formarea YC (Figura 3b)-.

a, care indică existența unor particule mici de oxid de oxid Y (Yttria) și SI (silice) în interiorul cerealelor. Difracția electronică de difracție (EBSD) orientare cristalografică a ambelor specimene din starea AS \\ CONDIȚII (Figura 5) au dezvăluit boabe coloane orientate aproape paralel cu direcția clădirii. În specimenul HX, unele boabe sunt orientate în direcția și unele sunt în direcția (Figura 5A). Pe de altă parte, granulele din HXa specimen sunt oarecum mai fine și mai ales orientate în direcția (figura 5b)

.